Семинар по технологии National Instruments для автоматизации стендовых испытаний, телеметрии и тестирования электронных блоков и компонентов

  • Главная
  • Архив новостей
  • Семинар по технологии National Instruments для автоматизации стендовых испытаний, телеметрии и тестирования электронных блоков и компонентов
  • 19.10.2010

Семинар по технологии National Instruments для автоматизации стендовых испытаний, телеметрии и тестирования электронных блоков и компонентов



  Семинар будет проходить 26 октября 2010 г., начало семинара в 15:00, место проведения - 5-141

 

Часть 1. Технологии National Instruments для автоматизации стендовых испытаний

  1. О компании National Instruments.
  2. Особенности реализации систем сбора данных и систем управления испытательными стендами.
    • Обзор основных задач, решаемых при автоматизации испытательных стендов.
    • Требования, предъявляемые к современным многоканальным измерительно-вычислительным комплексам (ИВК).
    • Выбор платформы National Instruments для создания ИВК:
      • PXI/PXI Express – синхронные многоканальные измерения динамических сигналов.
      • SCXI, SC series – согласование и измерение сигналов с любых типов датчиков.
      • RIO (Reconfigurable Input/Output) – сбор и обработка динамических сигналов в реальном времени и разработка систем управления на базе ПЛИС.
  3. Программное обеспечение National Instruments для организации сбора и обработки данных.
    • Инженерная графическая среда программирования NI LabVIEW.
      • Настройка режимов работы аппаратных средств.
      • Сбор и генерация данных.
      • Средства для анализа и представления результатов измерений.
  4. Использование аппаратно-программных средств National Instruments для измерения статических и динамических параметров при испытаниях изделий машиностроения.
    • Особенности измерения основных типов сигналов:
      • Динамические сигналы – вибрация, акустика, пульсации давления, тензометрия.
      • Медленноменяющиеся сигналы – температура, крутящий момент, частота оборотов, расходы.
    • Платформа PXI/PXIExpress – многоканальные синхронные измерения динамических сигналов вибрации, акустики и пульсаций давления с динамическим диапазоном до 120 дБ.
    • Платформа SCXI – многоканальные измерения сигналов с датчиков температуры, деформации, мостовых схем и т.п. в задачах прочностных и структурных испытаний.
    • NI Vision – технологии машинного зрения для высокоскоростной видеосъемки (до 50000 кадров/сек) динамических процессов.
    • Программные средства анализа сигналов:
      • Sound and Vibration Toolkit – спектральный и октавный анализ вибрационных и акустических сигналов.
      • Order Analysis Toolkit – порядковый анализ сигналов при диагностике вращающихся механизмов.
  5. Архитектура построения сверхмногоканальных систем сбора динамических сигналов на базе платформы National Instruments.
      Особенности проведения многоканальных измерений динамических и статодинамических сигналов.
      • Сверхбольшие потоки данных.
      • Синхронизация измерительных подсистем.
    • Сохранение и обработка больших объемов данных.
      • Платформа PXI Express – непрерывный сбор и сохранение данных с потоком до 800 МБ/сек и более (1000 каналов, с частотой оцифровки 204.8 кГц/канал, 24 бит, 120 дБ).
    • Синхронизация нескольких измерительных станций при сверхбольшом числе каналов.
    • NI DiAdem – программная среда для обработки и анализа больших объемов данных, полученных в ходе измерений, и составления отчетов.
  6. Платформа CompactRIO на базе ПЛИС в задачах разработки компактных распределенных высокоскоростных систем управления и сбора данных для бортовых испытаний.
    • Платформа NI RIO – использование ПЛИС для высокоскоростной обработки динамических сигналов и управления испытаниями в реальном времени.
    • NI CompactRIO – компактная автономная распределенная система на базе ПЛИС для использования в приложениях с повышенными требованиями к надежности (удары до 50 g, температура -40 - +70 C).
    • NI SbRIO – компактная распределенная система на базе ПЛИС для ОЕМ решений.
    • Применение систем NI CompactRIO и NI SbRIO при бортовых испытаниях наземной техники.
  7. Примеры приложений
    • Опыт использования технологий National Instruments в автоматизации испытаний на российских и зарубежных предприятиях.

Часть 2. Технологии National Instruments для телеметриии автоматизации тестирования электронных изделий и компонентов

  1. Особенности реализации автоматизированных тестовых систем в радиоэлектронной промышленности.
    • Обзор требований, предъявляемых к современным тестовым системам.
    • Типы тестовых систем:
      • Автоматизированное рабочее место (АРМ) инженера разработчика;
      • Автоматизированные тестовые системы на производстве;
      • Автоматизированные диагностические комплексы конечных изделий.
    • Платформы PXI/PXI Express для разработки высокопроизводительных тестовых комплексов.
  2. Модульные приборы PXI – автоматизированные стенды для тестирования аналого-цифровой электроники и радиотехники.
    • Разработка автоматизированных тестовых систем на базе модульных приборов National Instruments.
    • Новейшее оборудование National Instruments для тестирования аналого-цифровой электроники:
      • Осциллографы, генераторы, мультиметры, источники питания, счетчики/таймеры, коммутаторы.
    • Автоматизация испытаний радио- и СВЧ техники:
      • Платформа программируемого радио National Instruments;
      • Векторные анализаторы и генераторы ВЧ сигналов NI;
      • Измерение параметров и анализ модулированных ВЧ сигналов;
      • Системы коммутации СВЧ сигналов;
      • Разработка систем длительного непрерывного сбора и сохранения параметров СВЧ сигналов.
    • Примеры разработки тестовых систем для радиотехники и электроники:
      • Испытания аналоговой и цифровой электроники с характерным диапазоном частот до нескольких сот МГц;
      • Автоматизация испытаний пассивных ВЧ компонентов и антенн (диаграммы направленности и т.п.).
      • Автоматизированные диагностические комплексы для бортового авиационного оборудования и систем.
  3. Примеры приложений.
    • Опыт использования технологий National Instruments в автоматизации испытаний на российских и зарубежных предприятиях.
  4. Особенности работы с промышленными предприятиями.
    • Проектирование тестовых систем на основе ТЗ заказчиков;
    • Обучение заказчиков;
    • Разработка систем под ключ.
  5. Демонстрация оборудования и обсуждение ваших задач с инженерами National Instruments

Часть 3. Технологии National Instruments в автоматизации физического эксперимента и образовании

  1. Автоматизация физического эксперимента.
    • Многоканальные системы измерение и согласование сигналов с датчиков.
  2. Технологии National Instrumets в образовании.
    • Организация учебных классов и лабораторий.
    • Готовые учебные стенды и практикумы по направлениям:
      • Электротехника и электроника;
      • Радиотехника, системы связи и телекоммуникации;
      • Схемотехника и программирование микроконтроллеров;
      • Цифровая обработка сигналов;
      • Робототехника и мехатронные системы;
      • АСУТП и др.
    • Разработка уникальных учебных стендов и проектов по инженерным направлениям.
    • Обучение, участие в конференциях, программа международных стажировок.

Контактное лицо:

Денис Виноградов, региональный представитель в ЦФО, тел.: +7 (916) 991-41-00, e-mail: denis.vinogradov@ni.com

National Instruments Russia, Россия, 119361, Москва, ул. Озерная д.42, офис 1201 http://ni.com/russia, тел.: (495)783-68-51, факс: (495)783-68-52

2022 Тульский государственный университет. Политика конфиденциальности